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CONCORSO PUBBLICO, PER TITOLI ED ESAMI, PER L’ASSUNZIONE CON CONTRATTO DI LAVORO SUBORDINATO A TEMPO PIENO E INDETERMINATO DI N. 1 RICERCATORE DI III LIVELLO PROFESSIONALE DEL C.C.N.L. ISTRUZIONE E RICERCA. BANDO N. 1/2025. AREA SCIENTIFICA: MICROSCOPIA AVANZATA E SCIENZA DEI MATERIALI

Codice: AREABANDO12025 Ente: Area Science Park
Pubblicato il: 31 ottobre 2025, 11:00 Scade il: 19 novembre 2025, 11:00
Figura Ricercata

RICERCATORI DI III LIVELLO PROFESSIONALE DEL C.C.N.L. ISTRUZIONE E RICERCA

Posti Disponibili

1

Tipo Procedura

TITOLI_ESAMI

Stato

Aperto

Sedi

Friuli Venezia Giulia

Aree Tematiche

Concorso

Descrizione Completa

Area Science Park, indice un concorso pubblico, per titoli ed esami, per l’assunzione, con contratto di lavoro subordinato a tempo pieno e indeterminato, di n. 1 Ricercatore di III livello professionale del C.C.N.L. Istruzione e Ricerca. Riferimento bando n. 1/2025.

AREA SCIENTIFICA: MICROSCOPIA AVANZATA E SCIENZA DEI MATERIALI

Il Ricercatore dovrà svolgere, con un elevato grado di autonomia e in collaborazione con gruppi di ricerca nazionali e internazionali, attività di ricerca mediante microscopia elettronica avanzata, con particolare riferimento a tecniche di microscopia elettronica a trasmissione (TEM/STEM) e tecniche spettroscopiche e diffrattometriche correlate, applicate allo studio di materiali funzionali, nanostrutturati e complessi.

Le attività comprenderanno in particolare:

  • caratterizzazione avanzata di materiali mediante microscopia elettronica, con particolare riferimento a microscopia TEM/STEM ad alta risoluzione e tecniche analitiche e spettroscopiche, finalizzata alla correlazione tra i processi di sintesi, la microstruttura e le proprietà funzionali dei materiali;
  • sviluppo e ottimizzazione di metodologie di analisi e di simulazione di immagini TEM/STEM, finalizzate alla correlazione tra la struttura locale e atomica dei materiali e le loro proprietà fisiche e chimiche;
  • applicazione di approcci di correlative microscopy, integrando i dati ottenuti da microscopia elettronica con quelli derivanti da altre tecniche complementari (ad es. sintesi, caratterizzazione funzionale, caratterizzazione spettroscopica);
  • sviluppo e ottimizzazione di protocolli per la preparazione e la realizzazione di campioni destinati alla microscopia elettronica, nonché per la caratterizzazione integrata dei materiali.